全新偏振型能量色散X射線熒光光譜儀

 — 開創(chuàng)XRF分析新紀(jì)元

SPECTRO- XEPOS 偏振能量色散XRF的分析性能在能量色散 X 射線熒光技術(shù)（ED-XRF）領(lǐng)域獨(dú)樹一幟。 具備多元素和多濃度（主量、微量和痕量）的突破性分析能力。信號和光譜處理的新技術(shù)的運(yùn)用顯著提高了結(jié)果的精確性和準(zhǔn)確度。

1. 采用世界上最新的、最先進(jìn)的偏振X射線熒光激發(fā)技術(shù)，區(qū)別于其他X射線熒光儀， 儀器的背景最低，信噪比最佳， 檢出限最低。

2. 采用Pd/Co雙靶材技術(shù)搭配不同的激發(fā)光路，在更寬的元素范圍內(nèi)改善了靈敏度和檢測限。相當(dāng)于一臺儀器上配備了兩種X光射線管，激發(fā)方式得到優(yōu)化，以達(dá)到理想的分析效果。

3. 優(yōu)異的精度/極快的數(shù)據(jù)讀取具有業(yè)界最高的靈敏度。高精度地同時分析主，次量元素，卓越的檢出下限使儀器對那些難以分析的痕量元素也可以輕松應(yīng)對。 對需要快速分析的樣品，在稍稍犧牲精度的條件下，可大大縮短分析時間。

4. XEPOS型儀器配有無需液氮冷卻的SDD檢測器， 計數(shù)率高達(dá)1,000,000pcs。 可有效防止計數(shù)溢出。 不會產(chǎn)生Si(Li)計數(shù)器所發(fā)生的在無需液氮冷卻的情況下， 所產(chǎn)生的分辨率降低，背景升高，信噪比變差的情況。

5. 涂鍍層分析能力，具備了涂鍍層的厚度（低至1納米）及 成分分析功能，包括貴金屬鍍層分析，最 多8層55元素。

6. 儀器可選擇配置 TURBOQUANT快速定性, 半定量(定量)程序。可對任何完全未知的樣品進(jìn)行‘解刨’分析。與其他X熒光儀器相比，TURBOQUANT  更為接近(符合)實(shí)際，在此程序中采用了數(shù)十種國際標(biāo)準(zhǔn)樣品，實(shí)測結(jié)果并予以固化。

7. 儀器在Windows操作系統(tǒng)上建立斯派克的分析軟件，操作極為方便。采用人機(jī)功效學(xué)原理，譜圖匯編，自動識別。定性、定量功能強(qiáng)大。儀器采用分級密碼，重要的數(shù)據(jù)得到保護(hù)。

8. 儀器具有多達(dá)十幾種校正模式(數(shù)學(xué)模型)(方法)，在定量分析中可充分應(yīng)用，已取得最佳的分析結(jié)果。方法包括: 基本參數(shù)法、康普頓散射內(nèi)標(biāo)法、盧卡斯法、α經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法、質(zhì)量吸收系數(shù)法、平均原子量法等等。

SPECTRO XEPOS令人印象深刻，在從快速篩查分析到精確產(chǎn)品質(zhì)量控制等關(guān)鍵任務(wù)中表現(xiàn)十分出色。將它用于各行各業(yè)的臨線處理，包括地質(zhì)和采礦、環(huán)境和危廢檢測以及科研和高校。