導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)IPC-650M系列-百川儀器
產(chǎn)品描述
導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng) IPC-650M系列
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高精度、寬范圍的測(cè)量微小電阻
在高、低溫循環(huán)沖擊下,對(duì)焊接連接部、接插件連接部以及通 路電阻進(jìn)行高精度連續(xù)測(cè)試,檢測(cè)電阻的微小變化,自動(dòng)計(jì)算電阻 變化率以及判定是否符合技術(shù)要求,保證產(chǎn)品質(zhì)量與可靠性。
獨(dú)立溫度檢測(cè)功能
測(cè)試帶有10個(gè)溫度測(cè)量通道,可以跟隨產(chǎn)品進(jìn)入環(huán)境試驗(yàn) 內(nèi),并檢測(cè)箱體內(nèi)溫度變化。
實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)采集及存儲(chǔ)
采用數(shù)據(jù)庫(kù)管理模式,可以在控制數(shù)據(jù)采集量的同時(shí)對(duì)產(chǎn)品缺 陷發(fā)生進(jìn)行有效管理。
高可靠性、高精度的測(cè)試儀器
測(cè)試核心采用美國(guó)先進(jìn)測(cè)量?jī)x器,并經(jīng)過(guò)CE認(rèn)證,在計(jì)量方面 均可溯源到國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)。
寬廣的測(cè)試電流
選擇不同型號(hào)的測(cè)試系統(tǒng),測(cè)試電流可以在1mA-5A范圍內(nèi)應(yīng) 用,滿足不同的測(cè)試要求。
測(cè)試原理 |
對(duì)被測(cè)電阻施加一個(gè)恒定直流電流,再準(zhǔn)確測(cè)量被測(cè)電阻上的電壓,根據(jù)歐姆定律換算出電阻值;對(duì)于微小電阻測(cè)量,需要考慮2個(gè)影響測(cè)量精度的重要因素:引線誤差和接點(diǎn)熱電勢(shì);對(duì)于引線誤差采用4線制來(lái)達(dá)到消除引線電阻;對(duì)于測(cè)量回路中各個(gè)接點(diǎn)的熱電勢(shì)影響,采用正負(fù)電流交替測(cè)量法,分別在正向電流測(cè)試一次電壓,然后再施加一個(gè)反向電流,測(cè)量電壓,將2次測(cè)得的電壓進(jìn)行計(jì)算后,根據(jù)歐姆定律再計(jì)算出電阻值。
系統(tǒng)參數(shù):