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BTPM-MWS1低濃度恒溫恒濕半自動稱重系統(tǒng)-華普通用
BTPM-MWS1是丹東百特儀器有限公司研制的一種半自動稱重系統(tǒng),用于顆粒物采樣濾膜、濾嘴的實驗室恒溫恒濕平衡及手動稱重。 -
日本Otsuka界達電位ELSZ-2000
此設備可測量濃度低的溶液~濃度高的溶液的ZETA電位?粒徑及分子量。粒徑測量范圍(0 6nm~10μm),濃度范圍(0 00001%~40%)。實測電氣滲透流 -
日本Otsuka顯微分光膜厚儀OPTM SERIES
使用顯微光譜法在微小區(qū)域內(nèi)通過絕對反射率進行測量,可進行高精度膜厚度 光學常數(shù)分析。 可通過非破壞性和非接觸方式測量涂膜的厚度,例如各種膜、晶片、光學材料和多層膜。 測量時間 -
日本Otsuka膜厚測量用多通道光譜儀MCPD系列
光譜儀(MCPD-9800 MCPD-3700 MCPD-7700) 提供豐富選配套件以及客制化光纖, 可依據(jù)安裝現(xiàn)場需求評估設計,是一套可靈活架設于各種環(huán)境下的最佳即時測量系統(tǒng) -
美國Buehler AutoMet 250 研磨拋光機
AutoMet系列研磨拋光機專為嚴苛的生產(chǎn)實驗室環(huán)境而設計。 AutoMet 250適用于手動或自動樣品制備,其簡單靈活的操作,讓用戶可以輕松地應對多種應用需求 -
威爾遜 VH1102和1202維氏硬度計
VH1102和VH1202為顯微硬度測試提供了通用、經(jīng)濟且可靠的解決方案,兩款產(chǎn)品都可以用于質(zhì)量控制和金相研究應用。 -
威爾遜 VH3100 維氏硬度計
一臺革命性的精密硬度計,具有強大的50 gf - 10 kgf的荷載施加范圍,采用處于專利申請中的安全防撞技術(shù)以及行業(yè)中最先進的光學器件 -
威爾遜Rockwell 574 洛氏硬度計
574系列洛氏硬度計不僅質(zhì)量優(yōu)異、經(jīng)久耐用,而且具有業(yè)內(nèi)領先的量具重復性和再現(xiàn)性(GR&R),因此它是同類產(chǎn)品中性能最佳的硬度計。 -
威爾遜 Rockwell 2000洛氏硬度計
Rockwell 2000系列具有最高的深度測量精度和分辨率,因此,能提供業(yè)界領先的重復性和再現(xiàn)(GR&R性)。 -
Signal(M系列)石油生物燃料硅含量分析儀
Signal臺式分析儀采用了XOS的MWD XRF技術(shù)平臺(該技術(shù)還應用于Sindie和Clora分析儀),是硅含量分析儀的理想解決方案,具有前所未有的分析精準度、準確度和耐用性,適用于從汽油到乙醇和甲苯的 -
HD Mobile ?高精度X射線熒光分析儀
高精度X射線熒光(HDXRF)技術(shù)特別適用于對電氣設備零部件和原材料中潛在有毒重金屬檢測,滿足嚴格的精度要求。 -
Sindie 7039石油產(chǎn)品超低硫分析儀
小巧和方便使用的SINDIE試驗室分析儀是被設計用于檢測汽油,柴油和重油等石油產(chǎn)品中中超低總硫含量。